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Nano Indenter®G200X纳米压痕仪Nano Indenter G200X是一种易于使用的纳米级力学测试工具,可快速提供精确的定量分析结果。G200X系统可处理...
shlf1314iNano®纳米压痕仪iNano®纳米压痕仪使测量薄膜、涂层和小体积材料变得更简单。准确、灵活、用户友好的仪器可以进行多样的纳米材料力学测试,包括压痕、硬度、划痕和...
Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统世界上最畅销的台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Win...
Filmetrics F60-t系列薄膜厚度测量仪生产环境的自动测绘Filmetrics F60-t 系列就像我们的 F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率,但它增加了许多用于生产环境...
shlf1314Filmetrics F60-C系列薄膜厚度测量仪适合生产环境的自动晶圆传输薄膜厚度测绘系统Filmetrics® F60-c系列能够像我们的F50产品一样对薄膜厚度和折射...
shlf1314Filmetrics F54-XY系列薄膜厚度测量仪图案化晶圆的自动膜厚测量F54-XY拥有先进的反射光谱仪系统,可轻松实现对最大300mm晶圆样品的膜厚测量。F54-XY-200...
Filmetrics F54系列薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速...
shlf1314Filmetrics F50系列薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台可接受标...
Filmetrics F40系列薄膜厚度测量仪将您的显微镜变成薄膜测量工具F40 产品系列用于测量小到 1 微米的光斑。 对大多数显微镜而言,F40 能简单地固定在 c 型转接器上...
shlf1314Filmetrics F32系列薄膜厚度测量仪包含的内容:集成光谱仪/光源装置FILMeasure 8 软件FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)参考材料厚度标准整平...
shlf1314Filmetrics F30系列薄膜厚度测量仪监控薄膜沉积,最强有力的工具F30 光谱反射率系统能实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数 (n 和 k 值) 和半导体以及电介质层的均...
shlf1314Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪F3-sX 系列能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米,而这种较厚的薄膜与较薄的薄膜相比往往粗糙且均匀度较为不佳波长选配F3-sX系列使...
Filmetrics F3-CS快速厚度测量系统Filmetrics的F3-CS 专门为了微小视野及微小样品测量设计, 任何人从一线操作到研&发人员都可以此簡易USB供电系...
Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行最低...
shlf1314FilmetricsF10-HC薄膜厚度测量仪轻而易举而且经济有效地分析单层和多层硬涂层F10-HC 以 Filmetrics F20 平台为基础,根据光谱反射数据分析快速提供薄膜...
shlf1314Filmetrics F10-ARc薄膜厚度测量仪走在前端 以较低的价格现在可以很容易地测量曲面样品,包括眼镜和其他光学镜片的防反射涂层, 仅需其他设备一小部分的的价格就能在几秒内...
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