光声无损膜厚仪随着电子和纳米科学时代的兴起，电子元件的小型化已成为其几乎呈指数级性能的重要因素。将技术层和涂层减薄到纳米级，可以在各种领域取得进步。复杂的制造流程推动控制变得越来越...

shlf1314THATec公司成立于2016年，是德国研究机构亥姆赫兹联合会的衍生公司，公司成员全部为科学家，他们从上世纪90年开始开发串联多通道法布里泊罗干涉仪的控制软件，这为其现在公司的产品...

该系统通过小型红外摄像机和复杂的实时图像和数据处理来获取物体的高分辨率特写图像并识别关键应力热点。可识别和测量固体物体的微小温度变化，这是施加在物体上的结构载荷（压缩和拉伸）的直接...

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简介薄膜测量系统TF-168是TF-166的改进系统，从顶部更容易进行光束对准。它具有非接触式光学测量功能，可测量各种多层光学薄膜和涂层的厚度，折射率和吸收率。应用光学组件上的介电...

shlf1314该系统通过小型红外摄像机和复杂的实时图像和数据处理来获取物体的高分辨率特写图像并识别关键应力热点。可识别和测量固体物体的微小温度变化，这是施加在物体上的结构载荷（压缩和拉伸）的直接...