LJD-C介电常数及介质损耗测试仪
仪器介绍
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC60250）设计和制造的，并符合JB7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。
技术参数
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内i高的160MHz。LJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术： 1双扫描技术-测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 2双测试要素输入-测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 3双数码化调谐-数码化频率调谐，数码化电容调谐。 4自动化测量技术-对测试件实施Q值、谐振点频率和电容的自动测量。 5全参数液晶显示–数字显示主调电容、电感、Q值、信号源频率、谐振指针。 6DDS数字直接合成的信号源-确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 7计算机自动修正技术和测试回路z优化—使测试回路残余电感减至zui低，彻底根除Q读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 LJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。 | |
主要技术特性 | |
Q值测量范围 | 2～1023，量程分档：30、100、300、1000，自动换档或手动换档 |
固有误差 | ≤5％±满度值的2％（200kHz～10MHz），≤6％±满度值的2％（10MHz～160MHz） |
工作误差 | ≤7％±满度值的2％（200kHz～10MHz），≤8％±满度值的2％（10MHz～160MHz） |
电感测量范围 | 4.5nH～140mH |
电容直接测量范围 | 1～200pF |
主电容调节范围 | 18～220pF |
主电容调节准确度 | 120pF以下±1.2pF；120pF以上±1％ |
信号源频率覆盖范围 | 100kHz～160MHz |
频率分段（虚拟） | 100～999.999kHz，1～9.99999MHz,10～99.9999MHz，100～160MHz |
频率指示误差 | 3×10-5±1个字 |
LJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪
仪器介绍
LJD-B全数字显示介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC60250）设计和制造的，并符合JB7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。
LJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪读书清晰,无须换算,操作简便,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电子信息,电子通信,材料科学等专业作科研实验仪器.
技术参数
信号源频率范围 | DDS数字合成10KHz-60MHz | Q测量范围 | 1-1000自动/手动量程 |
信号源频率覆盖比 | 6000:1 | Q分辨率 | 4位有效数,分辨率0.1 |
信号源频率精度 | 3X10-5±1个字,6位有效数 | Q测量工作误差 | <5% |
电感测量范围 | 15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH | 调谐电容 | 主电容30-500PF |
电感测量误差 | <5% | 调谐电容误差和分辨率 | ±1.5P或<1% |
标准测量频点 | 全波段任意频率下均可测试 | Q合格预置范围 | 5-1000声光提示 |
谐振点搜索 | 自动扫描 | Q量程切换 | 自动/手动 |
谐振指针 | LCD显示 | LCD显示参数 | F,L,C,Q,波段等 |
