冷热冲击应力筛选试验箱
应力筛选复合试验箱对不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)。
冷热冲击应力筛选试验箱技术规格： 测试方法：应力筛选标准//三箱法标准//两箱法标准
型号 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D | SER-G | |
内部尺寸 (W x D x H cm) | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 1000×1000×1000 | |
外部尺寸 (W x D x H cm) | 140×165×180 | 150×190×185 | 160×190×185 | 170×240×195 | 2000×3500×2850 | |
结构 | 三箱式（预冷箱）（预热箱）（测试箱） | |||||
预热温度范围 | +60～+220℃（约50min） | |||||
预冷温度范围 | +20℃～-75℃（约70min） | |||||
温度恢复时间 | 小于15分钟 | |||||
温度均匀度 | ≤2℃ | |||||
温度波动度 | ≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示 | |||||
温度偏差 | ±2℃ | |||||
应力筛选温度范围 | -40℃/-55℃/-65℃～+125℃/+150℃/+180℃ | |||||
应力筛选温度速率 | 等均温5℃～40℃/min | |||||
（三箱法） （两箱法） | 高温暴露 | +60～+150℃/180℃ | ||||
低温暴露 | -40℃～0℃/ -55℃～0℃/ -65℃～0℃ | |||||
控制器 | 中文彩色触摸屏+ PLC控制器（控制软件自行开发） | |||||
控制方式 | 靠积分饱和PID，模糊算法 平衡式调温P.I.D + P.W.M + S.S.R | |||||
冷却方式 | 水冷（水温7℃～28℃，水压0.1～0.3Mpa），以便确保降温性能 | |||||
电源电压 | AC380V50Hz三相四线+接地线 | |||||
