仪器简介: 差热分析仪是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。

差热分析仪用途： 主要测量与热量有关的物理、化学变化，如物质的熔点、熔化热、结晶与结晶热、相变反应热、热稳定性（氧化诱导期）、玻璃化转变温度、氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

差热分析仪技术参数:1. 温度范围: 室温~1550℃ 2. 量程范围: 0～±2000μV 3. 升温速率: 0.1~80℃/min4. 温度分辨率: 0.01℃5. 温度重复性: ±0.1℃6. DTA精度: 0.01μV7. 控温方式: 升温：程序控制 可根据需要进行参数的调整 恒温：程序控制 恒温时间任意设定8. 曲线扫描: 升温扫描9. 气氛控制: 仪器自动切换10. 气体流量：0-200mL/min11. 气体压力：0.2MPa12. 显示方式：24bit色 7寸LCD触摸屏显示13. 数据接口: 标准USB接口14. 参数标准: 配有标准物质，带有一键校准功能，用户可自行校正温度和热焓15. 工作电源: AC 220V 50Hz或定制16. 功率：600W差热分析仪主要特点：1. 全新全封闭式高级陶瓷炉体设计结构，大大提升灵敏度和分辨率以及更好的基线稳定性。2. 采用进口合金传感器，更抗腐蚀，抗氧化，传感器灵敏度高。3.采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更精确。4. 采用USB双向通讯，完全实现智能化操作。5. 采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，实时显示仪器的状态和数据。6.智能化软件设计，仪器全程自动绘图，软件可实现各种数据处理，如热焓的计算、玻璃化转变温度、氧化诱导期、物质的熔点及结晶等等。差热分析仪参考标准：GB/T 19466.2 – 2004 / ISO 11357-2: 1999第2部分：玻璃化转变温度的测定；GB/T 19466.3 – 2004 / ISO 11357-3: 1999第3部分：熔融和结晶温度及热焓的测定；GB /T 19466.6- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化诱导期 氧化诱导时间（等温OIT)和氧化诱导温度（动要态OIT)的测定。