微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al到92U 的固体或液体样品。
高通量镀层分析
FT110A 是一款台式 XRF 分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合高标准。
准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心，而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用，提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材，将全天候支持您的设施满足高标准的行业电镀规范。
产品亮点
专为高通量生产而设计，来看 FT110A 如何支持您的质量控制。
强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果
对成品安全的无损检测
自动化功能提高生产力
分析多达四层和基材，加上电镀液
易于非专业操作员使用
测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987
大样品舱可容纳各种样品
可定制的选项以适合您的应用
FT110A | |
元素范围 | Ti – U |
探测器 | 正比计数器系统 |
样品舱设计 | 开闭式或开槽式 |
准直器数量 | 2 或 4 |
准直器下限 | 0.025 x 0.4 mm |
XY轴样品台选择 | 程控或固定 |
XY轴样品台行程 | 250 x 200 mm |
程控Z轴行程 | 150 mm |
样品尺寸上限 | shlf1314500 x 400 x 150 mm |
样品聚焦 | 聚焦激光和可选的自动聚焦 |
样品视图 | shlf1314摄像头视图和可选的第二广角摄像头 |
测量点识别 | 可选 |
软件 | shlf1314X-ray Station |
产品对比
