多孔材料表面Zeta电位分析仪
原理简介：
APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。
当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。
APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。
计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。
专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。
shlf1314多孔材料表面Zeta电位分析仪
主要用途：
1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆；
2)陶瓷；
3)油墨；
4)乳剂稳定性；
5)药品；
6)生物胶体；
7)荧光粉；
8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑；
9)催化剂；
10)矿物；
11)聚合物乳液；
12)水和非水分散体系；
技术参数：
1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；
2)不需要稀释样品；
3)不需要假设PSD形状；
4)粒度范围：0.005-100微米；
5)无电解质干涉；
6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；
7)可测量纵向粘度，60%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；
8)具有自动滴定选项；
9)专门技术：1-100MHz声衰减谱；
10)溶剂：水/非水；
11)样品固体%：0.1-60%体积比；
12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用；
