应用范围:
材料、化工、制药、精细陶瓷、建材、石油、电力、冶金、食品、化妆品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高岭土、氧化物、碳酸盐、金属粉末、耐火材料、添加剂等以颗粒物作为生产原材料、产品、中间体等
符合但不局限于以下国标:
ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法
技术特点:
1.独特的半导体制冷恒温控制绿色固体激光器做光源,波长短、体积小、工作稳定、寿命长; 2.独特设计大直径光靶,保证测量范围大,0.1-1000微米全测量范围内不需要更换镜头或移动样品池; 3.集多年研究之成果,米氏理论的完美应用; 4.独特反演算法,保证颗粒测量的准确; 5.USB接口,仪器与计算机一体化,避免设备电脑兼容性问题、连接问题。 6.样品池模块化设计,更换模块可实现不同的测试模式;干法样品池新型进样分散系统、配置空气抽取系统,实现样品粉尘均匀流动。 7.样品测量可完全自动化,除添加样品外,只要连接好干法样品池,即可全自动测量;同时也提供手动测量菜单; 8.软件个性化,提供测量向导等众多功能,方便用户操作; 9.测量结果输出数据丰富,保存在数据库中,能用任意参数,如操作者姓名,样品名,日期,时间等进行调用分析,与其他软件实现数据共享; 10.仪器造型美观,体积小重量轻; 11.测量精度高,重复性好,测量时间短; 12.软件提供众多物质折射率供用户选择,满足用户查找被测颗粒折射率要求; 143考虑到测试结果的保密要求,只有授权操作者才能进入相应数据库读取数据和处理; 14.内嵌10.8寸工业级别的电脑,WIN 10系统,30GB硬盘容量、2GB系统内存,可连接键盘、鼠标、U盘 15.本仪器符合但并不局限于以下标准: ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法 技术参数 型号 TS-D1 TS-D2 TS-D3 TS-D4 理论依据 Mie散射理论 粒径测量范围 0.1-200um 0.1-400um 0.1-600um 0.1-1000um 光源 半导体制冷恒温控制红光固体激光光源,波长635nm 重复性误差 <1%(标准D50偏差) 测量误差 <1%(标准D50偏差,用国家标准颗粒检验) 检测器 shlf131432或48通道硅光电二极管 样品池 干法样品池 测量分析时间 shlf1314正常条件下小于1分钟(从开始测量到显示分析结果) 输出内容 shlf1314体积、数量微分分布和累积分布表和图表;多种统计平均直径;操作者信息;实验样品信息、分散介质信息等。 显示方式 内嵌10.8寸工业级别的电脑,可连接键盘、鼠标、U盘 电脑系统 WIN 10系统,30GB硬盘容量、2GB系统内存 电源 220V,50 Hz