shlf1314一、产品介绍：

厚度标准块（片）—JJF1306- 2011X射线荧光镀层测厚仪广泛应用于电子、半导体、集成电路等先进制造领域中镀层膜厚测量仪器的误差校准及量值溯源，自支撑金属膜厚标准片、镀层膜厚标准块、涂覆层测厚仪厚度标准片，满足JJF1306-2011X射线荧光镀层测厚仪校准规范。

二、特点：

厚度标准块（片）—JJF1306- 2011X射线荧光镀层测厚仪携带方便，应用灵活，定值精度高，直接溯源于国家镀层膜厚标准。

shlf1314三、技术指标：

标称厚度 加工偏差测量不确定度

<0.1mm ±35% 0.005mm

0.05~1mm ±30% <0.01mm+5%

>1~10mm ±25%<5%

shlf1314>10~50mm ±15%<5%

shlf1314>50mm ±10%<5%