shlf1314

JW-DX400比表面积分析仪

 
品牌: 精微高博
单价: 面议
起订: 1 台
供货总量: 100 台
发货期限: 自买家付款之日起 30 天内发货
所在地: 默认地区
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-12-22 10:34
浏览次数: 108
 
公司基本资料信息
详细说明

比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器DX400比表面积分析仪,测试准确、高效,一小时测试28个标准样品。非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。

shlf1314在-196度低温液氮环境下,通入一定流量比例的氮氦混合气体,采用高精度热导池根据样品吸附氮分子前后的气体浓度变化,得到吸附峰或脱附峰,峰面积正比于氮气吸附量,应用直接对比法或BET理论计算出样品的比表面积大小。

DX400软件

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