shlf1314

菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪

 
品牌: 菲希尔
单价: 面议
起订: 1 台
供货总量: 100 台
发货期限: 自买家付款之日起 30 天内发货
所在地: 默认地区
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-12-22 15:58
浏览次数: 102
 
公司基本资料信息
详细说明

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路板上镀层厚度及成分分析而设计的入门级、耐用型测量仪。

shlf1314微聚焦X射线管配合比例接收器能够产生高计数率信号,以此造就了高精度的测量。出色的准确性及长期的稳定性是FISCHER X射线仪器的共有特点,因此也大大减少了重新校准仪器的需要,为您节省时间和精力。

shlf1314依靠FISCHER所采用的的完全基本参数法,可以在没有标准片校正的情况下分析固、液态样品及测量样品的镀层厚度。

shlf1314XDLM-PCB 220配备了可电动切换的多种准直器和基本滤片,让每次测量都可以在最优化的条件下进行,满足各种测量需求。

XDLM-PCB 220是用户界面友好的台式测量仪器。测量门底部留有空隙,以方便对大面积印制电路板的测量。仪器样品定位简便,配备了高精度、可编程的XY平台,并带有弹出功能。激光点作为辅助定位,能帮助快速对准测量位置。配备了高分辨率彩色摄像头,使得对准测量位置的过程更加准确、简便。

XDLM-PCB 220配备带铍窗口的微聚焦钨管,提供三挡可选高压,3种可切换基本滤片。

可按照客户要求,提供额外的XDLM-PCB型产品更改和XDLM-PCB仪器技术咨询。

反对 0举报 0 收藏 0 评论 0
更多>本企业其它产品
菲希尔贵金属检测SIGMASCOPE® GOLD 菲希尔CMS2/STEP库伦仪 Fischer MMS® INSPECTION XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 菲希尔_HM2000S微纳米压痕仪 菲希尔FMP100/150系列 菲希尔MP0/MP0R电磁/涡流测厚仪 菲希尔MMS PC2
网站shlf1314  |  仪器公司  |  网站地图  |  网站留言  |  产品大全  |  科普知识