XRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心研制的X射线无损检测模拟软件。软件研制过程历经23年， 其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室，美国陆军、空军及其它国防工业部门； 跨国大公司有如美国铝业，达信航空航天，劳斯莱斯，普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等，以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。

快速的射线检测模拟。软件在个人电脑上就可以以较快的速度运行，也不需要优越的工作环境。如图所示，XRSIM的主要组成部分包括：绿色的CAD图，根据CAD信息得到的彩色的厚度图，射线检测模拟的灰度图以及参数设置主菜单和子菜单。

应用领域：

? 射线源（靶、窗口、能量范围，……）

? X射线与物质的相互作用（衰减定律，康普顿散射，电子对效应）

? 工件和缺陷（Stl文件）

? 探测器（吸收剂量，胶片/ 非晶硅，图像增强器，……）

? 建模是基于基本的物理规律

? 速度快

? 开放式的用户接口

? 可模拟最多由20个零件组装的产品,每个零件最多可植入4个缺陷

? 对计算机硬件要求低

? 节约胶片或探测器

? 节约时间（人工+机时）

? 透照方向分析

? 检测分辨力分析

? 优化检测工艺或参数

? 加快预研项目进程（prototype）

? 检测覆盖率分析

? 教育培训

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