TriStar II Plus比表面与孔径分析仪

TriStar II 是完全自动化并且含三个分析站的比表面积和孔隙度分析仪，仪器性价比高。它能够提高常规质控分析的速度和效率，同时拥有高精度、高分辨率和数据还原能力，以满足大多数研究需求。TriStar II 也同时提供氪气选件，可以在非常低的比表面积范围内进行测量。该仪器还兼容多种分析方法和数据处理，用户可优化分析特定的应用。

• 三个分析站同时运行，但又相互独立。三个BET比表面积的测量可以在20分钟内完成，四个TriStar可用一台计算机控制。
• 使用标准氮气系统，比表面积测试最低可达0.01m²/g。TriStar II也适用于氩气、二氧化碳和其他非腐蚀性气体如丁烷、甲烷或其他轻烃气体。
• 标配的P₀端口可连续进行饱和压力的测量。饱和压力可手动输入、连续测量或在样品中收集。TriStar II可方便的控制和微调分析速度和精度。
• 渐增或固定注气程序可防止错过压力点，同时又最大限度地减少分析时间。
• 自由空间可以测量、计算或手动输入，提供了最大的灵活性，以适应特殊类型的样品以及需要时进行快速测量。
• 增强的产品功能包括：视频剪辑、计算机和TriStar II之间的以太网通信、条形码阅读器、内置在电子测试点和诊断软件、能够通过互联网进行远程诊断、读取和比较TriStar II及Gemini历史数据和TriStar II数据。
• 2.75升（可选配4L）大容量杜瓦瓶和超长样品管允许收集完整的吸附脱附等温线，而无需人员再次加液氮。
• 多达1000个数据点的TriStar II等温线的观察与记录可以提供高分辨率和揭示孔隙结构的细节。
• 直观而强大的视窗软件使得数据归档和联网操作更便利。这个软件最强大的功能在于扩展的数据处理以及报告功能，包含SPC报告、新吸附等温线和厚度模型、等量吸附热和DFT模型等。
• 可选用加热流动气体或者加热抽真空去除样品的表面和孔隙中水蒸汽和吸附的气体。
• 设计精美，体积小，使用方便。

TriStar II Plus比表面与孔径分析仪分析范围

比表面积不低于 0.01 m2/g，氮气配置

shlf1314比表面积不低于 0.001 m2/g，氪气配置

孔体积：不低于 4 × 10-6 cm³/g

分析站个数：1-3个

杜瓦瓶持续时间：最长 40 小时

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