HORIBA 颗粒特性和表征领域内的产品涵盖了颗粒度分布、颗粒形貌分析、Zeta电位和表面领域分析。能对颗粒度范围从1nm到30mm,浓度范围从1ppm到50（体积百分比）的样品进行测量和形貌分析。Horiba与此相关的技术有激光散射（米氏原理）， 动态光散射， 电超声频谱法以及动态和静态图像分析（能同时检测颗粒度分布和样品形貌）。
HORIBA先进和强大的软件与灵活的样品处理系统相结合，从而满足了不同的分析需求。仪器所具备的微容量分析系统，高度自动化，干燥粉末的分散和测试系统以及温度控制系统等，为使用者提供了最佳分析解决方案。
粒度仪
- 激光散射粒度仪
- LA-960
- LA-300
shlf1314得到世界上用户很高评价的HORIBA的激光衍射/散乱式粒子径分布测定装置LA-300集高精度、较大测定范围以及良好的操作性集于一身，适应以陶瓷和化学产品、粉末涂料、药品、加工食品等研究开发为目的的测定需求，此外还能够满足ISO-9000和医药品安全性试验以及制造标准的GLP/GMP等质量管理面的需求。
特征
保证高精度±1.4％。(在HORIBA指定条件中保证精度。) LA-300不管使用哪个装置进行测定，通常都能提供可靠性高的数据。经严密的性能检查而生产出来的LA-300，对应了需要进行严格粒径管理的前端需求 。
shlf13140.1～600μm的大量程。 实现了用明快的图表显示粒径分布。通过 HORIBA先进设计的光学系统，能够快速，高精度地捕捉到大角度的散射光分布数据。整个散射光强分布能够在LA-300的软件图表上明快地显示出来，各种粒径分布数据也能在图表上快捷地显示出来 。
LA-300大大提高了软硬件的易用性，诸如HORIBA独有的学习导航功能，印刷版面设计功能和自动调整功能等等许多便利的功能。
