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DWS RheoLab扩散波谱仪

 
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所在地: 默认地区
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-12-22 11:21
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公司基本资料信息
详细说明

以激光光散射为基础的扩散波谱学受到越来越多的重视。传统的光散射技术并不能有效的表征浑浊或者高浓的体系,而扩散波谱技术则可以做到这一点,能直接对浑浊或者高浓的样品体系进行直接测试而无需稀释。另外该仪器可以在无扰动、无破坏性的前提下反应样品的流变性能。扩散波谱技术是一项非破坏性技术,与传统的机械流变仪相比,测试范围宽,测试高频流变是该仪器的一大特色,另外还可以利用Cox-Merz定律实现频率到剪切速率的转化,可以对低至0.2毫升样品量的少量样品的微流变研究。而且与传统的流变技术相比,DWS的测试速度快,测量频率高,样品需求量少。我们的DWS RheoLab采用了“双池回波技术”(EP 1720000 A1),哪怕是在分析慢弛豫或固体状材料时都能在短短几分钟内完成测试。另外扩散波谱技术还能满足其他软物质体系表征的需求,如对凝胶进行凝胶点的测试(温度,PH值的依赖性)、乳液的稳定性等。DWS尤其适用于那些浑浊的样品体系,如高浓度悬浮液、乳剂、料浆、凝胶体、泡沫等。这是一项新兴的(上世纪九十年代初期才被提出,本世纪才被商品化)表征技术,可以与传统的光散射、流变等仪器形成良好的互补,用于软物质的表征。配置参数:※ 标准配置前散射模式,提供背散射模式选项,提供整体DWS解决方案,通过电子快门系统实现两种模式转换;※ 通过软件进行数据采集和分析,用户可自定义多脚本运行,进行在线微流变分析,可以得到粘弹模量、均方位移、平均光子自由程、蠕变柔量、损耗角正切和平均粒径(利用背散射模式);※ 自动测量得到平均光子自由程l*和吸收长度la。※ 半导体激光光源,685nm,40mW,噪音小于0.5%,单模TEM00,相干长度>1m,预热时间15分钟,激光路径处于密闭空间,安全等级为1级(根据EN 60825-1/11.01标准);※ 两个高检测效率的单光子计数检测器,量子效率>65% @ 685nm,标准死时间20ns;※ 双通道快速多tau/线性相关器,最小采样时间12.5ns;※ 测试温度范围(4℃ - 100℃,可升级至180℃选项),在实验室温度不高于23℃时温控精度+/-0.02℃,露点以下测量时需接干燥空气吹扫,仪器提供接口;※ 储存模量G'和损耗模量G"测量范围1Hz-10MHz,弹性范围:1Pa-50kPa;※ 可测试1mPas以上的低粘度样品;※ 样品池支架光程范围1-10mm,可使用标准的光学池,使用1mm样品池时样品需求量降至150μL;※ 仪器无需光学平台,操作保养更加简捷。产品功能:DWS RheoLab型扩散波谱仪采用了前散射和背散射(选项)技术,能够分析软物质的微流变以及超浓悬浮液的平均粒径。采用双池回波技术(EP 1720000 A1),用于非遍历性样品表征,几分钟内得到储存模量G'和损耗模量G",频率上限可达10M Hz ;适用样品浓度>1%(和粒径有关),澄清样品需加入示踪粒子;可以测量稳定性,老化性以及凝胶点等。使用背散射(选项)技术测量平均粒径,测量范围:50nm-1μm(和样品相关);适用于颗粒浓度20%以下的牛顿流体体系,能获得多分散性样品的平均粒径。

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