shlf1314在许多研究领域中，准确确定轻质样品的质量非常重要。为了实现这一点，高分辨率分析天平是不可或缺的设备。此外，许多技术相关过程发生在技术要求苛刻的条件下，例如，高压，极端温度，以及腐蚀...

shlf1314RuboSORP系列利用成熟的测量吸附等温线的技术研究材料的吸附过程，具有测量时间短和自动化程度高的优点。测量仪器设计紧凑，可根据客户要求进行订制。该仪器允许录多同时测试5个样品。...

shlf1314RuboSORP系列利用成熟的测量吸附等温线的技术研究材料的吸附过程，具有测量时间短和自动化程度高的优点。测量仪器设计紧凑，可根据客户要求进行订制。该仪器允许录多同时测试5个样品。...

AMI-300 系列全自动程序升温化学吸附仪AMI-300化学吸附分析仪是新一代全自动程序升温化学吸附仪，可执行动态程序升温催化剂表征实验（TPR,TPO,TPD,脉冲化学吸附等）...

shlf1314真密度仪 JW-M100系列全自动真密度测试仪，沿用了静态容量法比表面仪气体吸附的原理，结合了仪器结构设计上的创新思想，形成了一款实用型、高效型便携式一体机。该系列仪器，外形结构...

shlf1314压汞仪YG-97A型高性能压汞仪，是继JW-100、JW-200、JW-400等系列孔径分析仪之后的又一款全新产品，适用于固体颗粒或块状固体材料孔径分布曲线的测定，尤其是孔径在10...

shlf1314压汞仪YG-97A型高性能压汞仪，是继JW-100、JW-200、JW-400等系列孔径分析仪之后的又一款全新产品，适用于固体颗粒或块状固体材料孔径分布曲线的测定，尤其是孔径在10...

shlf1314比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一，常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器DX400比表面...

JW-DX陶瓷比表面积分析仪（动态法） JW-DX型动态吸附bet比表面积仪，JW发明专利，创新的结构，每个样品单独吸附，互不干扰，吸附峰尖锐，灵敏度大大提高，通过吸附峰直接对比...

JW-ZQ200C 水蒸汽吸附仪（静态容量法）...

概述TB系列比表面积及孔径分析仪，是北京精微高博科学技术有限公司最新推出的表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的仪器。该仪器采用最常用、最可靠的静态容量法气体吸附法分析材料的吸附行为...

shlf1314JW-BK400陶瓷比表面积分析仪（静态法） 精微高博专注于比表面积测试仪的研发及销售，是国内外的知名品牌。并于2014年获得比表面积测试仪《国产好仪器》证书，客户的认可就是我们...

产品简介： JW-BK222基础型比表面积及孔径分析仪，双站并列独立运行。仪器重要硬件全部采用一线品牌，产品综合性能完善，测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到进口同等仪器水平...

JW-BK400四通道比表面积及孔径分析仪 精微高博专注于比表面积测试仪的研发及销售，是国内外的知名品牌。并于2014年获得比表面积测试仪《国产好仪器》证书，客户的认可就是我们制...

shlf1314MOFs/COFs高性能比表面测试仪 JW-BK200C研究级超高性能双站比表面及微孔孔隙度分析仪，完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点，自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用...

shlf1314产品特点测试原理低温条件下（液氮或液氩等），在密闭的真空系统中，改变吸附质气体压力，通过高精密压力传感器测量出样品吸附气体分子前后的压力变化值，进而计算出气体吸附量，描绘出等温吸脱...