shlf1314X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，独有多毛细孔X 射线光学系统设计，可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ&re...

shlf1314PICODENTOR® HM500是一款遵循国际标准DIN EN ISO 14577-1，采用载荷/压入深度方法的显微硬度测量系统。采用该方法时，压头——通常为维氏或柏氏压...

PICODENTOR® HM500是一款遵循国际标准DIN EN ISO 14577-1，采用载荷/压入深度方法的显微硬度测量系统。采用该方法时，压头——通常为维氏或柏氏压...

shlf1314FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计，是用于质量控制，质量检验和生产监控...

shlf1314FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来...

FISCHERSCOPE® HM2000是一款遵循国际标准DIN EN ISO 14577，采用仪器化压入测试方法的高性价比纳米压痕仪。采用该仪器，可测量难以对位的被测位置...

shlf1314FISCHERSCOPE HM 2000是一款专业的纳米压痕测量仪器，适用于通过纳米压痕法分析材料的机械与弹性特性。其非常坚固且尺寸稳定的构造可减少振动与温度波动的影响。稳定的测量...

仪器简介：适用于Windows®2000或选择适用于Windows®XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用...

shlf1314仪器简介：适用于Windows®2000或Windows®XP的真Win32位程序带在线帮助功能。频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。能通过“应用工具箱...