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shlf1314XU-100 X荧光光谱测厚仪高精尖检测技术,搞定企业品质管控!XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计,搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统,以及高敏变焦测距装置,对各...
shlf1314国nei首chuang、全qiu领xian的多导毛细管技术,轻松应对超小测量点薄涂层和极薄涂层的测量分析,在柔性电路板、芯片封装环节、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势...
高性价比上照式光谱测厚仪,对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析,适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。img height=200 wi...
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