XU-100 X荧光光谱测厚仪

高精尖检测技术，搞定企业品质管控!

XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm，最小测量面积0.2mm²，凹槽深度测量范围可达0-30mm，是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。

应用行业：

电镀层分析

紧固件行业

五金行业

汽车零部件

配饰厚度分析

电子元器件

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常见样品：

紧固件
ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe

五金制品
Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe

电子元器件
Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu


汽车零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS


配饰首饰
Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu

散热片NiP/Al

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为什么选择XU-100？

1.下照式设计


shlf1314可以快速方便地定位对焦样品。


2.高精密微型移动滑轨

快速精准定位样品。

shlf13143.
微焦X射线装置

shlf1314
最小检测面积可达0.2mm²的样品，可进行各类电镀层膜厚检测。


shlf1314高效率正比接收器即使测试0.2mm²的样品，几秒钟也能达到稳定性。

shlf13144.
变焦装置算法


可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm。


5.先进的EFP算法


多层多元素，包括有同种元素在不同涂镀层的检测，都可以快、准、稳的做出数据分析。