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SPIP材料表面分析软件
多年来,扫描探针图像处理软件SPIP™,已经成为实际意义上的纳米级图像处理的标准。第一版SPIP™发布于1995年。然而Image Metrology公司的
2025-01-02 22:15
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北京维泰凯信新技术有限公司
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开尔文探针系统
开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置,用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potenti
2025-01-02 22:15
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科睿设备有限公司
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KP超高真空开尔文探针系统
KP 超高真空开尔文探针系统开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置,用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(S
2025-01-02 22:15
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南通宏腾微电子技术有限公司
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金铠仪器 高真空粉末样品原位工作站
装置概述 本装置为配备分子泵机组的高真空固体粉末样品原位反应及处理工作站,适用于固体粉末样品的高真空、高低温处理、原位反应及样品转移,广泛应用于固体核磁共振和光谱分析等化学分析的样
2025-01-02 22:15
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金铠仪器(大连)有限公司
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ELIONIX纳米压痕仪(超微小压入硬度仪)
超微小压入硬度测试仪 ENT-5,通过管控测量室内温度,减少测量环境的干扰,实现高数据可重复性,适用于 0.5μN 至 2,000mN 的各种测试负载。◇了解各种材料的硬度&bul
2025-01-02 22:15
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深圳菱光社贸易有限公司
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KLA 纳米压痕仪 iNano
iNano®纳米压痕仪可轻松测量薄膜、涂层和少量材料。 该仪器准确、灵活,并且用户友好,可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。 该仪器的力荷载和位移
2025-01-02 22:15
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新耕(上海)贸易有限公司
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Bruker Hysitron TI 980纳米压痕仪
纳米力学和纳米摩擦学测试的一大飞跃Bruker’s Hysitron TI 980 TriboIndenter海思创TI 980 TriboIndenter纳米压痕仪是布鲁克最先进
2025-01-02 22:15
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北京亚科晨旭科技有限公司
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Hysitron TS 77 Select 纳米压痕仪
Hysitron TS 77 Select 纳米压痕仪可靠的定量表征TS 77 Selec产自动台式纳米力学和纳米摩擦测试系统提供了同级别仪器中高的测试性能,功能性和易用性。基千布
2025-01-02 22:15
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北京亚科晨旭科技有限公司
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KLA 纳米压痕仪 G200X
这是一款先进的纳米压痕仪,用户可以在操作界面上灵活、方便地进行纳米级力学测试。Nano Indenter G200X采用高速控制器电子设备、升级后的用户界面和先进的InView&t
2025-01-02 22:15
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是德科技(中国)有限公司
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KLA 纳米划痕仪 G200
Nano Indenter® G200系统是一种准确,灵活,使用方便的纳米级机械测试仪器。 G200测量杨氏模量和硬度,包括从纳米到毫米的六个数量级的形变测量。 该系统还可
2025-01-02 22:15
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是德科技(中国)有限公司
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KLA 纳米压痕仪 iMicro
灵活且用户友好的纳米压痕仪,适用于测量模量、硬度(Oliver-Pharr模型,ISO 14577)、储存模量/损耗模量以及万能力学试验。能够施加高达1N的力,为硬质材料测试提供更
2025-01-02 22:15
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科磊KLA 生物纳米压痕仪 iNano
iNano®纳米压痕仪使测量薄膜、涂层和小体积材料变得更简单。准确、灵活、用户友好的仪器可以进行多样的纳米材料力学测试,包括压痕、硬度、划痕和通用的纳米尺度测试。大的力和位
2025-01-02 22:15
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KLA 原位纳米压痕仪 NanoFlip
NanoFlip纳米压痕仪可在真空和气氛条件下,准确、精密地进行硬度、模量、屈服强度、刚度和其它纳米力学性能的测试。无论在扫描电子显微镜(SEM)或是聚焦离子束(FIB)系统中,N
2025-01-02 22:15
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KLA 高温原位纳米压痕仪 InSEM HT
InSEM® HT高温原位纳米压痕仪通过在真空环境下独立加热压头和样品,以测量高温下的硬度、模量和刚度。InSEM HT与扫描电子显微镜 (SEM) 及聚焦离子束 (FIB
2025-01-02 22:15
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KLA 探针式轮廓仪/台阶仪 D-600
Alpha-Step D-600 探针式轮廓仪能够测量从几纳米到 1200微米的2D和3D台阶高度。D-600 还支持2D和3D的粗糙度测量,以及用于研发和生产环节的2D翘曲度和应
2025-01-02 22:15
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KLA 探针式轮廓仪/台阶仪 P17
Tencor P-17探针式轮廓仪支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行二维(2D)和三维(3D)测量,其扫描范围
2025-01-02 22:15
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KLA 探针式轮廓仪/台阶仪 P-170
Tencor P-170是一款自动化轮廓仪,可为生产环节提供从几纳米到一毫米的台阶高度测量功能。该系统支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,扫描范围可达200毫米
2025-01-02 22:15
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KLA 非接触式光学轮廓仪 Zeta-20
Zeta™-20是一个高度集成的光学轮廓显微镜,可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品
2025-01-02 22:15
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KLA 非接触式光学轮廓仪 Zeta-300
Zeta-300 光学轮廓仪基于 Zeta-20 的成熟性能,包括集成式防震以及支持更大的样品尺寸,以满足您的研发和生产要求。Zeta™-300 可提供 3D 量测和成
2025-01-02 22:15
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KLA 白光干涉轮廓仪 Profilm 3D
Profilm3D®和 Profilm3D-200光学轮廓仪经济实惠,是一套非接触式基于白光干涉法的3D表面形貌测量系统。最新一代的白光干涉仪拥有新的成像模式,性能和价值得
2025-01-02 22:15
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