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HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪

 
品牌: 日立
单价: 面议
起订: 1 台
供货总量: 100 台
发货期限: 自买家付款之日起 30 天内发货
所在地: 默认地区
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-12-22 11:21
浏览次数: 107
 
公司基本资料信息
详细说明

shlf1314FT160为微型电子器件的微焦斑分析,这款不会过时的仪器,专为微焦斑和超薄镀层分析而设计,可应对日益小型化的电子行业及PCB板镀层的挑战。■FT160可提供:1.毛细管聚焦光学组件和高灵敏度SDD检测器。2. 小于50μm的样品测量3. 卓越的性能,以满足半导体芯片技术的挑战。4. 快速得到结果,使用简单,以提高生产力。5. 加快样品呈现速度的宽大样品舱门和样品台。6. 进行测试监控的宽大样品观察窗。

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