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高频超声波探头
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AD-3253超声波测厚计
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RT-V 反射透射测量仪
  • RT-V 反射透射测量仪
  • 一、概述 RT-V系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜
  • 2024-12-22 11:32  [默认地区]
  •   武汉颐光科技有限公司  [未核实]
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SR-M显微膜厚仪
  • SR-M显微膜厚仪
  • 一、概述 SR-M针对特定微小区域，可提供微米级的聚焦光斑，同时利用显微物镜定位测量点，从而获取精准位置的厚度表征结果。■光斑大小可进行定制，最小可达到10um；■非接触、非破
  • 2024-12-22 11:32  [默认地区]
  •   武汉颐光科技有限公司  [未核实]
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SR-C 反射膜厚仪
  • SR-C 反射膜厚仪
  • 一、概述 SR-C紧凑型高精度反射膜厚仪，利用光学干涉原理，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。■光学薄膜测量
  • 2024-12-22 11:32  [默认地区]
  •   武汉颐光科技有限公司  [未核实]
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SR-Mapping反射膜厚仪
  • SR-Mapping反射膜厚仪
  • 一、概述 SR-Mapping系列利用反射干涉的原理进行无损测量，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱，同时搭配R-Theta位移台，兼容6到12寸样
  • 2024-12-22 11:32  [默认地区]
  •   武汉颐光科技有限公司  [未核实]
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WinWInTec白光干涉形貌仪
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港东科技SGC-10薄膜测厚仪
  • 港东科技SGC-10薄膜测厚仪
  • 【仪器介绍】SGC-10型薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量，是天津港东与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司先进的薄膜
  • 2024-12-22 11:32  [默认地区]
  •   天津港东科技股份有限公司  [未核实]
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