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菲希尔XUL220型X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、
2024-12-22 11:29
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南通菲希尔测试仪器有限公司
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菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来
2024-12-22 11:29
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菲希尔UMP20, 40, 100,150
FISCHERSCOPE® UMP 20, 40 and 100Fischer的新产品UMP系列仪器为防腐行业测量壁厚提供了完美的解决方案。 坚固耐用的,定制的模塑外壳和凸
2024-12-22 11:29
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菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路板上镀层厚度及成分分析而设计的入门级、耐用型测量仪。微聚焦X射线管配合比例接收器能够产生高计数率信
2024-12-22 11:29
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菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。FISCHERSCOPE® X-RAY XDV
2024-12-22 11:29
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菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,独有多毛细孔X 射线光学系统设计,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ&re
2024-12-22 11:29
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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控
2024-12-22 11:29
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菲希尔XULM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来
2024-12-22 11:29
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X-射线荧光镀层厚度测试仪
仪器简介:适用于Windows®2000或选择适用于Windows®XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用
2024-12-22 11:29
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X-射线荧光镀层厚度测试仪
仪器简介:适用于Windows®2000或Windows®XP的真Win32位程序带在线帮助功能。频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。能通过“应用工具箱
2024-12-22 11:29
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Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统
Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统世界上最畅销的台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Win
2024-12-22 11:29
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科磊半导体设备技术(上海)有限公司
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Filmetrics F60-t系列薄膜厚度测量仪
Filmetrics F60-t系列薄膜厚度测量仪生产环境的自动测绘Filmetrics F60-t 系列就像我们的 F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率,但它增加了许多用于生产环境
2024-12-22 11:29
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Filmetrics F60-C系列薄膜厚度测量仪
Filmetrics F60-C系列薄膜厚度测量仪适合生产环境的自动晶圆传输薄膜厚度测绘系统Filmetrics® F60-c系列能够像我们的F50产品一样对薄膜厚度和折射
2024-12-22 11:29
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Filmetrics F54-XY系列薄膜厚度测量仪
Filmetrics F54-XY系列薄膜厚度测量仪图案化晶圆的自动膜厚测量F54-XY拥有先进的反射光谱仪系统,可轻松实现对最大300mm晶圆样品的膜厚测量。F54-XY-200
2024-12-22 11:29
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Filmetrics F54系列薄膜厚度测量仪
Filmetrics F54系列薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘Filmetrics F54 系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速
2024-12-22 11:29
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Filmetrics F50系列薄膜厚度测量仪
Filmetrics F50系列薄膜厚度测量仪自动化薄膜测绘Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台可接受标
2024-12-22 11:29
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Filmetrics F40系列薄膜厚度测量仪
Filmetrics F40系列薄膜厚度测量仪将您的显微镜变成薄膜测量工具F40 产品系列用于测量小到 1 微米的光斑。 对大多数显微镜而言,F40 能简单地固定在 c 型转接器上
2024-12-22 11:29
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Filmetrics F32系列薄膜厚度测量仪
Filmetrics F32系列薄膜厚度测量仪包含的内容:集成光谱仪/光源装置FILMeasure 8 软件FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)参考材料厚度标准整平
2024-12-22 11:29
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Filmetrics F30系列薄膜厚度测量仪
Filmetrics F30系列薄膜厚度测量仪监控薄膜沉积,最强有力的工具F30 光谱反射率系统能实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数 (n 和 k 值) 和半导体以及电介质层的均
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Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪F3-sX 系列能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米,而这种较厚的薄膜与较薄的薄膜相比往往粗糙且均匀度较为不佳波长选配F3-sX系列使
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