shlf1314

Filmetrics F32系列薄膜厚度测量仪

 
品牌: KLA
单价: 面议
起订: 1 台
供货总量: 100 台
发货期限: 自买家付款之日起 30 天内发货
所在地: 默认地区
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-12-22 11:19
浏览次数: 108
 
公司基本资料信息
详细说明

Filmetrics F32系列薄膜厚度测量仪

包含的内容:

  • 集成光谱仪/光源装置

  • shlf1314FILMeasure 8 软件

  • shlf1314FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)

  • 参考材料

  • 厚度标准

  • 整平滤波器 (用于高反射基板)

型号规格

型号厚度范围*波长范围F32F32-EXRF32-NIRF32-UVF32-UVXF32-XTBREADCRUMB_f32sx
15nm - 70µm380-1050nm
15nm - 250µm380-1700nm
100nm - 250µm950-1700nm
1nm - 40µm190-1100nm
1nm - 250µm190-1700nm
0.2µm - 450µm1440-1690nm
10µm - 3mm960-1580nm

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额外的好处:

  • 每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种

  • 应用工程师可立刻提供帮助(周一 - 周五)

  • 网上的 “手把手” 支持(需要连接互联网)

  • 硬件升级计划

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常见的选购配件:

  • SampleCamSampleCam

  • StageBase-XY10-Auto-100mmshlf1314StageBase-XY10- Auto-100mm

  • 多厚度硅基上的二氧化硅标准 多厚度硅基上的二氧化硅标准

  • 可追溯的 NIST 厚度标准追溯的 NIST 厚度标准

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