Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统

世界上最畅销的台式薄膜厚度测量系统

只需按下一个按钮，您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上，我们每天从我们的客户学习更多的应用.

选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度（确定所需的波长范围）

包含的内容：

• 集成光谱仪/光源装置

• FILMeasure 8 软件

• shlf1314FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)

• SS-3 样品平台及對應光纤电缆

• 参考材料

• 厚度标准

• 整平滤波器 (用于高反射基板)

• 备用灯

型号规格

型号厚度范围*波长范围F20F20-EXRF20-NIRF20-UVF20-UVXF20-XTF3-sX 系列

15nm - 70µm	380-1050nm
15nm - 250µm	380-1700nm
100nm - 250µm	950-1700nm
1nm - 40µm	190-1100nm
1nm - 250µm	190-1700nm
0.2µm - 450µm	1440-1690nm
10µm - 3mm	960-1580nm

取决于薄膜种类

额外的好处：

• shlf1314每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种

• 应用工程师可立刻提供帮助（周一 - 周五）

• shlf1314网上的 “手把手” 支持(需要连接互联网)

• 硬件升级计划

常见的选购配件：

SampleCam

shlf1314StageBase-XY10-Auto-100mm

shlf1314多厚度硅基上的二氧化硅标准

可追溯的 NIST 厚度标准

接触探头

携带箱